img
Millimeter-Wave SAR Imaging for Sub-Millimeter Defect Detection with Non-Destructive Testing
Yazarlar
Bengisu Yalçınkaya Gökdoğan
Atılım Üniversitesi, Türkiye
Prof. Dr. Elif AYDIN
Çankaya Üniversitesi, Türkiye
Ali Kara
Gazi Üniversitesi, Türkiye
Makale Türü Özgün Makale
Makale Alt Türü SSCI, AHCI, SCI, SCI-Exp dergilerinde yayımlanan tam makale
Dergi Adı ELECTRONICS
Dergi ISSN 2079-9292
Dergi Tarandığı Indeksler SCI-Expanded
Dergi Grubu Q2
Makale Dili İngilizce
Basım Tarihi 01-2025
Cilt No 14
Sayı 4
Sayfalar 689 /
Doi Numarası 10.3390/electronics14040689
Makale Linki https://doi.org/10.3390/electronics14040689
Atıf Sayıları
SSCI/AHCI/SCI/ESCI 0
Scopus Atıf Sayısı 0
Diğer Atıflar 0
Millimeter-Wave SAR Imaging for Sub-Millimeter Defect Detection with Non-Destructive Testing