img
Optical characterization of (TlInS2)0.5(TlInSe2)0.5 crystal by ellipsometry: linear and optical constants for optoelectronic devices
Yazarlar
Prof. Dr. İpek GÜLER
Çankaya Üniversitesi, Türkiye
Nizami Hasanli
Türkiye
Mehmet Işık
Atılım Üniversitesi, Türkiye
Makale Türü Özgün Makale
Makale Alt Türü SSCI, AHCI, SCI, SCI-Exp dergilerinde yayımlanan tam makale
Dergi Adı Springer Science and Business Media LLC
Dergi ISSN 0957-4522
Dergi Tarandığı Indeksler SCI-Expanded
Dergi Grubu Q2
Makale Dili İngilizce
Basım Tarihi 06-2023
Cilt No 34
Sayı 1346
Sayfalar 1 / 7
Doi Numarası 10.1007/s10854-023-10755-6
Makale Linki http://dx.doi.org/10.1007/s10854-023-10755-6